組織工程是近年來(lái)興起的多學(xué)科交叉的前沿科學(xué)。細(xì)胞和支架是最重要的部分,研究泛。細(xì)胞提供生物功能,支架提供細(xì)胞生長(zhǎng)平臺(tái)。組織建設(shè)不僅要考慮支架的宏觀機(jī)構(gòu)、細(xì)胞水平的表面微結(jié)構(gòu),還要考慮亞細(xì)胞水平的納米結(jié)構(gòu)、皮牛頓細(xì)胞和分子間作用力。前兩個(gè)結(jié)構(gòu)層次有很多研究和制備方法,但對(duì)納米層次的了解不夠,結(jié)構(gòu)控制方法有限。納米技術(shù)使亞細(xì)胞水平設(shè)備的構(gòu)建成為可能,納米技術(shù)在組織工程中的應(yīng)用成為一個(gè)新的不斷發(fā)展的領(lǐng)域。原子力顯微鏡作為納米檢測(cè)、納米操作的重要手段,在組織工程中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。
近十年來(lái),支撐材料的研究熱點(diǎn)之一是材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)種子細(xì)胞的影響。研究人員希望深入了解特征表面形態(tài)如何誘導(dǎo)細(xì)胞形態(tài)變化、細(xì)胞粘附、遷移、生長(zhǎng)、凋亡、基因調(diào)節(jié)和組織結(jié)構(gòu)。通過AFM觀察發(fā)現(xiàn),在適當(dāng)?shù)臈l件下,該混合系統(tǒng)可以形成具有特征納米級(jí)表面結(jié)構(gòu)的薄膜。這種聚合物分層法制成的薄膜表面是單一的PS成分,納米級(jí)島狀結(jié)構(gòu)的高度可以調(diào)節(jié),特別適合研究不同高度納米表面結(jié)構(gòu)對(duì)細(xì)胞生長(zhǎng)的影響。成纖維細(xì)胞的研究結(jié)果表明,細(xì)胞對(duì)材料表面的島狀結(jié)構(gòu)敏感,細(xì)胞形態(tài)、粘附和遷移,與細(xì)胞外基質(zhì)形成相關(guān)的基因隨島狀結(jié)構(gòu)的高度而變化。培養(yǎng)一周后,內(nèi)皮細(xì)胞的形態(tài)分布與脈管組織在體內(nèi)形成過程中的形態(tài)相似,表明島狀結(jié)構(gòu)本身可以起到類似細(xì)胞外基質(zhì)的生理誘導(dǎo)作用。以上方法形成的納米結(jié)構(gòu)形態(tài)不規(guī)則。結(jié)果表明,F(xiàn)n吸附在孔的邊緣,形成圓形結(jié)構(gòu),而Fn在相同物質(zhì)的光滑膜上形成相互連接的纖維結(jié)構(gòu),表明吸附Fn的結(jié)構(gòu)與基底的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)。進(jìn)一步的內(nèi)皮細(xì)胞和心肌細(xì)胞培養(yǎng)結(jié)果表明,蜂種細(xì)胞在蜂窩狀膜上形成的吸附結(jié)構(gòu)決定了蜂窩狀膜的生物學(xué)反應(yīng)不同于平板膜。了解細(xì)胞外基質(zhì)納米級(jí)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)以及細(xì)胞外基質(zhì)與生物材料之間的關(guān)系對(duì)組織工程人工細(xì)胞外基質(zhì)的構(gòu)建起著重要的指導(dǎo)作用。重要的細(xì)胞外基質(zhì)蛋白I型膠原蛋白具有特殊的纖維結(jié)構(gòu),其形成與溶液濃度、溶液成分、基底表面結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分等因素有關(guān)。通過AFM對(duì)I型膠原蛋白和I型膠原蛋白在不同聚合物基底上的結(jié)構(gòu)和吸附研究發(fā)現(xiàn),I型膠原蛋白在聚苯乙烯(PS)上的吸附強(qiáng)于一系列聚甲基丙烯酸酯,聚甲基丙烯酸酯側(cè)鏈的長(zhǎng)度影響膠原蛋白形成的分枝纖維的長(zhǎng)度。Elliott等u采用端基為COOH一,NH。硫代烷烴制成均勻的單層膜,是膠原纖維的基底。研究表明,膠原纖維超級(jí)結(jié)構(gòu)的形成取決于基底的化學(xué)成分,而粗膠原纖維的接觸角僅大于83。當(dāng)接觸角小于63時(shí),表面生成。粗膠原纖維不能形成。對(duì)蛋白質(zhì)一材料的吸附規(guī)律有深入的了解,對(duì)仿生材料的制備有很好的指導(dǎo)作用。
AFM不僅是納米結(jié)構(gòu)檢測(cè)的有效手段,其納米針尖和精密壓電控制系統(tǒng)使其成為納米控制和生產(chǎn)的有力工具,通過適當(dāng)?shù)姆椒刂铺结樀牧鸵苿?dòng)軌跡,可用于書寫納米圖案,該技術(shù)稱為掃描探針蝕刻。一次性掃描AFM探針,誘導(dǎo)聚己內(nèi)酯和聚乙烯基對(duì)苯二甲酸酯薄膜上穩(wěn)定的條紋納米圖形。通過調(diào)整施加力的大小、掃描速度和角度,可以改變形成的圖形高度、周期性和方向。
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